به همت محققان کشور؛
پژوهشگران دانشگاه تهران با ارتقای فناوری مربوط به دستگاه اندازهگیری زاویه تماس و کشش سطح، امکان آنالیز سطوح و زاویه تماس در حوزه نانو مهندسی سطح را در کشور فراهم کردند.
کد خبر: ۷۰۹۰۷۷ تاریخ انتشار : ۱۳۹۷/۰۶/۱۸