کد خبر:۹۳۸۶۷۹
با تلاش محققان؛
ابزار مشخصه‌یابی تغییرات سطح در اثر دما با مقیاس نانومتری ارائه شد
شرکت سنسوفار ابزار دقیقی برای تعیین مشخصات تغییرات انجام شده روی سطح در مقیاس نانومتری در اثر تغییرات دما ارائه داده است. این ابزار برای مطالعه مورفولوژی سطح و اصلاحات سطحی انجام شده در اثر تغییر دما مناسب است.
به گزارش گروه فناوری خبرگزاری دانشجو، سنسوفار (Sensofar)، یک شرکت فناور، متخصص در زمینه اندازه‌گیری سطح به صورت غیرتماسی است. این شرکت روش جدیدی برای مشخصه‌یابی تغییرات توپوگرافی سطح نمونه با درجه حرارت با استفاده از پروفایل نوری S neox ۳ D و تداخل‌سنج Linnik همراه با محفظه کنترل دما LTS ۴۲۰ Linkam ایجاد کرده است. از این روش برای نقشه‌برداری موفقیت تغییرات زبری و موج‌دار بودن ویفر‌های سیلیکونی در دمای حداکثر ۳۸۰ درجه سانتیگراد استفاده شده است.
پروفیلومتری نوری یک روش اندازه‌گیری غیرمخرب، بدون تماس و سریع سطح است که برای تعیین مورفولوژی سطح، ارتفاع پله‌ها و زبری سطح مواد استفاده می‌شود. از این فناوری در طیف گسترده‌ای از کاربرد‌ها در بسیاری از زمینه‌های تحقیقاتی شامل تجزیه و تحلیل بافت و پوشش‌ها، تجزیه و تحلیل ترک‌های ریز و خراش‌ها و ایجاد سایش برای مواد مختلف از جمله میکرو الکترونیک و تعیین مشخصات مواد در مقیاس نانومتری استفاده می‌شود.
معمولا انجام آزمایش‌های پروفیلومتری نوری کنترل شده با دما به دلیل مشکلات تصویربرداری ناشی از تغییر در انحراف کروی با دمای دشوار است.
با استفاده از سیستم جدید عدسی تداخل‌سنج Linnik با پروفیلر نوری S neox ۳ D و همچنین استفاده از محفظه کنترل دمای دقیق LTS ۴۲۰، مشکلات انحراف کروی حل شده و امکان اندازه‌گیری دقیق توپوگرافی سه‌بعدی مواد در مقیاس نانو در طیف گسترده‌ای از دما‌ها فراهم می‌شود.
دیوید پائز، متخصص پشتیبانی فروش سنسوفار می‌گوید: «در آزمایش اخیر با استفاده از این روش جدید، ما توانستیم تغییرات توپوگرافی ویفر‌های سیلیکونی را که با دمای ۲۰ تا ۳۸۰ درجه سانتیگراد ایجاد می‌شوند، مشاهده کنیم. این روش اطلاعات مهمی برای تولیدکنندگان و کاربران ویفر سیلیکونی ارائه می‌دهد، به طوری که آن‌ها می‌توانند روند‌های خود را بهینه کنند، ویژگی‌های نیمه هادی و دوام ویفر را بهبود بخشند. محفظه Linkam LTS ۴۲۰ و کنترل‌کننده دمای T ۹۶ از اجزای اصلی این روش هستند و به ما امکان می‌دهند تا دما را بین ۱۹۵- درجه و ۴۲۰ درجه سانتیگراد با دقت ۰٫۰۱ درجه سانتیگراد کنترل کنیم.»
رابرت گورنی، متخصص برنامه‌های کاربردی Linkam می‌گوید: «ما برای دهه‌ها امکان کنترل دقیق دما و شرایط محیط را برای طیف گسترده‌ای از روش‌ها، از میکروسکوپی تا تجزیه و تحلیل اشعه X ارائه داده‌ایم. این همکاری نقش مهم کنترل دما را در کمک به رویکرد‌های نوآورانه برای تعیین مشخصات مواد برجسته می‌کند. ما بسیار خرسندیم که به لطف تداخل‌سنج Linnik می‌توانیم راه حلی مفید برای پروفیلومتری کنترل شده دما ارائه دهیم و ما مشتاقانه منتظریم ببینیم که چگونه این روش جدید به محققان در بسیاری از زمینه‌های علمی برای پیشرفت تحقیقات و دانش خود کمک می‌کند.»
لینک کپی شد
گزارش خطا
۰
اخبار مرتبط
ارسال نظر
*شرایط و مقررات*
خبرگزاری دانشجو نظراتی را که حاوی توهین است منتشر نمی کند.
لطفا از نوشتن نظرات خود به صورت حروف لاتین (فینگیلیش) خودداری نمايید.
توصیه می شود به جای ارسال نظرات مشابه با نظرات منتشر شده، از مثبت یا منفی استفاده فرمایید.
با توجه به آن که امکان موافقت یا مخالفت با محتوای نظرات وجود دارد، معمولا نظراتی که محتوای مشابهی دارند، انتشار نمی یابد.