ساخت میکروسکوپی جدید برای تصویربرداری دقیق از سطح در مقیاس نانو

به گزارش گروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد. این فناوری ترکیبی از Dimension Icon® AFM و فناوری AFM-IR فتوترمال nanoIR™ برای ایجاد استاندارد‌های جدید در نقشه برداری از ویژگی‌های مواد شیمیایی با وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر ۱۰ نانومتر است.

این پلتفرم جدید که شامل حالت PeakForce Tapping® منحصر به فرد بروکر است، کامل‌ترین راه حل میکروسکوپی مرتبط را برای کمی‌سنجی نانوشیمیایی، نانومکانیکی و نانوالکتریک ارائه می‌دهد. در نهایت، IconIR انعطاف‌پذیری و کاربرد بیشتری را برای تحقق اهداف تحقیقاتی پیشگامانه در طیف وسیعی از کاربرد‌های حوزه پلیمر، زمین شناسی، نیمه هادی و علوم زیستی فراهم می‌کند.

الکساندر دازی، استاد دانشگاه پاریس-ساکلی، و مخترع روش AFM-IR می‌گوید: «برای اولین‌بار، IconIR مرا قادر می‌سازد تا طیف سنجی nanoIR و وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر ۱۰ نانومتر را با روش‌های نقشه‌برداری کَمّی‌پیشرفته ترکیب کنم. با این قابلیت‌های جدید، من می‌توانم به راحتی پلیمر را در مخلوطی از چند ماده با وضوح چند نانومتر تشخیص دهم. علاوه بر این، مود ضربه‌ای AFM-IR بسیار حساس و قوی است به طوری که اکنون می‌توانیم سیستم‌های پیچیده با ناهمگونی‌های مکانیکی بالا را مطالعه کنیم.»

دین داوسون، مدیر بازرگانی بروکر می‌گوید: «این پلتفرم جدید، فناوری nanoIR را به بخش‌های جدیدی تعمیم می‌دهد که در حال حاضر با روش AFM-IR نمی‌توان وارد آن حوزه‌ها شد و کاربران را قادر می‌سازد تا مطالعات دقیق‌تری را برای درک بهتر ساختار و ترکیب مواد انجام دهند. در محصولات nanoIR سیستم Dimension IconIR با تکیه بر فناوری AFM-IR، ویژگی‌های نانومقیاس قابل مطالعه بوده و وضوح تصویربرداری شیمیایی را در حد ۱۰ نانومتر می‌رساند.»

Dimension IconIR ترکیبی از طیف‌سنجی IR و طیف‌سنجی میکروسکوپ روبشی (SPM) است که چندین دهه تحقیق و نوآوری برای ارائه حداکثر عملکرد و قابلیت در طیف‌سنجی مادون قرمز نانومقیاس را در بر می‌گیرد. در یک سیستم واحد، IconIR بالاترین عملکرد را برای طیف‌سنجی مادون قرمز در مقیاس نانو، وضوح تصویربرداری شیمیایی و حساسیت تک‌لایه ارائه می‌دهد.